|
| |
| 粉体的“壁垒” |
| {$GetArticleIntro} |
| 【字体:大 中 小】 点击数: |
对粉体的定义是随时间逝去而变化的。从此也可看出粉体工程不断进展的足迹。在70年代曾流行“3微米壁垒”的说法,即粉体的诸操作一旦使粉体接近了微米难度就急剧增大。这既有冲击粉碎、喷气粉碎等粉碎机理问题、筛目等电气成型筛的制法局限性问题,更主要的是在分级、流化层等操作中所遇到的随粉体附着力的增大而造成操作困难所致,这种情况至今未见大的改观。另外还有1个问题,所处理的介质不同,虽也有差异,但大体上是当粉体粒子接近数十微米时,与其他固体接触时所产生的附着力与其重心所产生的重力大体相等,而处于平衡状态。随着粉体粒径减小,与其重力相比附着力的倍率急剧增加,当粒径达到数微米时其重力作用几乎小到可忽略不计,即粉体粒子原则上形成一种凝聚体。此时它的举动与单个松散状态时完全不同了。此二力处于平衡状态时的粒径称为平衡粒度,有时以此为界把粉末分成粒体和粉体。过去的粉体设备几乎都是以粒体为目的而设计的。近50年来处理对象的粒径越来越小,为此粉碎机从以冲击为主的高速旋转粉碎机向兼有增加的剪切功能的设备过渡,粒度测定也向离心式发展并导入光穿透技术。就粉碎机而言,随着对微粉体需要的增加导入了喷气粉碎、振动球磨机等设备。但这都是60年代的事情。随之遇到了“三微米壁垒”的问题。进一发展还有超微粉的壁垒问题。假如光的波长为数百毫微米,当粒子大小波长与此相同时就产生光散射现象,从而就不能以此观测粒子大小了,再小的粒子只能靠电子显微镜来测试了。可见观测手段完全发生了变化。
|
| |
|
|
|